本發明公開了一種智能卡芯片厚度測量裝置，涉及厚度測量技術領域，包括工作臺，所述工作臺頂部固定安裝有支撐柱，所述工作臺表面設置有夾持裝置和清理裝置，其中，夾持裝置包括傳動軸、夾板和橡皮墊，所述工作臺表面開設有一號滑槽，所述一號滑槽內部轉動...

本發明涉及激光芯片性能測試設備技術領域，具體涉及一種激光芯片性能測試機構，包括基板，所述基板的頂部開設有中空槽，中空槽的前端和后端均開設有導移槽，導移槽的頂部開設有安裝槽，安裝槽的內部旋轉連接有限控組件，基板的側壁固定連接有螺紋電機，螺...