本發(fā)明涉及核電領(lǐng)域,尤其涉及一種基于可解釋神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的核電關(guān)鍵設(shè)備測(cè)點(diǎn)優(yōu)化方法。所述方法包括:利用設(shè)備上的智能診斷系統(tǒng),獲取設(shè)備運(yùn)行的原始數(shù)據(jù)和診斷結(jié)果;通過(guò)稀疏神經(jīng)網(wǎng)絡(luò),建立設(shè)備故障模式識(shí)別模型;通過(guò)Grad?CAM++技術(shù)計(jì)算每個(gè)測(cè)點(diǎn)...