本發(fā)明涉及殼體檢驗技術領域，具體為一種薄壁殼體部件檢驗用多點固定裝置，包括調(diào)節(jié)機構和固定機構，所述固定機構設在調(diào)節(jié)機構的表面，所述調(diào)節(jié)機構包括角度組件、位移組件、導向組件和調(diào)整組件，所述位移組件設在角度組件的頂部，所述導向組件設在位移組...