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        沐曦科技成都有限公司專利技術

        沐曦科技成都有限公司共有98項專利

        • 本申請涉及電數字數據處理技術領域,特別是涉及一種HBM低功耗的處理方法。方法包括:獲取目標IP核的目標狀態位的值A;遍歷A,如果每一ai均等于第一預設值,則第一預設時間段后,如果每一目標IP核的目標狀態位的值均等于第一預設值,則向主目標...
        • 本申請涉及電數字數據處理技術領域,特別是涉及一種GPU多線程同時訪問的處理方法。其包括:S100,獲取GPU的第一線程集的訪問信息集A,A中ai為GPU的第i個第一線程thri的訪問信息集,ai中ai,j(i)為thri擬周期性獲取的第...
        • 本申請涉及芯片設計驗證技術領域,特別是涉及一種基于監視器的請求分析系統,該系統通過在關鍵通路上部署監視器以在用例仿真過程中獲取傳輸信息,并存儲到目標文件中,使得緩存單元的請求和返回能夠以傳輸信息的方式進行格式化存儲,便于后續直接根據目標...
        • 本申請涉及芯片仿真驗證技術領域,特別是涉及一種CPU仿真加速系統,該系統以動態庫的形式支持CPU仿真模塊和固件程序的相互調用,相較于現有方案,跳過了CPU指令執行流程,通過動態庫直接調用硬件操作任務,縮短了寄存器操作的鏈路長度,從而大幅...
        • 本發明涉及芯片技術領域,尤其涉及一種數據分發系統,包括;Pm,用于接收第m個上游設備發送的初始化數據和指令數據并發送給輸入處理模塊;輸入處理模塊,用于將初始化數據存儲至對應的Am中的一個存儲器中,并將對應的存儲器標識添加至對應的指令數據...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種系統化封裝芯片的測試系統,該系統包括:第二接口、第三接口、第一芯片、第二芯片和金屬層,僅需要第一芯片的第二接口和第三接口即可控制第二芯片進入測試子模式,提高了系統化封裝場景下芯片測試的便捷性,而...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種芯片的強制測試信號生成電路,該電路包括:交互接口對應的第一目標焊盤、第二目標焊盤、目標上拉電阻、第三目標三態門、第四目標三態門、上電復位信號、上電復位延遲信號、第三目標反相器和鎖存器,通過上電復...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種芯片測試子模式的進入系統,該系統中,模式解碼器根據子模式進入信息、M個測試子模式對應的編碼信息,將對應的測試子模式的信號設置為預設第二電平,測試子模式的信號和測試模式信號作為測試子模式對應的與門...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種芯片復位電路,該電路通過電路設計使得上電復位信號可以作用于測試模式相關的寄存器和振蕩器,以及測試子模式相關的寄存器和第一通信模塊,保證了上電復位的有效性,熱復位信號僅可以作用于測試子模式相關的寄...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種芯片掃描電路,該電路包括:掃描模式選擇信號、P個第一掃描單元{q1,q2,…,qp,…,qP}、S個第二掃描單元{r1,r2,…,rs,…,rS}、第二接口、第三接口、第四接口、第五接口、第一選...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種芯片的強制測試電路,該電路包括:目標接口、強制測試信號、第一目標三態門、第二目標三態門、第一目標與門、第一目標或門、第一目標反相器、第二目標反相器、第一目標輸出端、第一目標輸入端、第一控制信號和...
        • 本發明涉及芯片技術領域,尤其涉及一種基于查找表的軟件程序刷新保序方法、電子設備和介質,方法包括步驟S1、獲取待處理軟件程序組{A1,A2,...,An,...,AN};步驟S2、在下游設備為每一An設置一個對應的查找表Bn;步驟S3、上...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種系統化封裝芯片的連接測試電路,該電路包括:第一芯片、第二芯片,其中,所述第一芯片包括第二接口、第三接口和A個第一連接單元,所述第二芯片包括A個第二連接單元,將第一芯片和第二芯片之間的連接關系通過...
        • 本發明公開一種llvm編譯器處理GPU共享內存分配的方法和裝置,屬于數據處理領域,本發明通過重新構造kernel函數調用鏈,對于被多個kernel調用的設備函數,復制后重新命名并同時復制該設備函數中的共享內存變量,確保每個設備函數只存在...
        • 本申請提供一種斷言覆蓋率代碼生成方法、裝置、電子設備及存儲介質,涉及芯片驗證的技術領域。斷言覆蓋率代碼生成方法,包括:獲取斷言覆蓋率信息表,所述斷言覆蓋率信息表中包括有多個功能點,以及每個功能點對應的斷言覆蓋率信息集合;基于預設腳本,分...
        • 本申請涉及芯片測試技術領域,特別是涉及一種上電復位監測電路,該電路通過上電復位監測電路,使得上電復位信號的變化情況與復位管腳的電平變化情況相對應,從而能夠通過監測復位管腳的電平變化情況來監測芯片內部無法直接監測到的上電復位信號,能夠獲取...
        • 本發明涉及芯片技術領域,尤其涉及一種軟件程序事件保序執行方法、電子設備和介質。通過一個公共查找表以及每一個待處理軟件程序組對應的事件查找表來保證軟件程序事件保序執行,公共查找表中每一存儲單元與一個計算單元對應,事件查找表小于公共查找表,...
        • 本發明涉及芯片技術領域,尤其涉及一種目標線程索引的獲取方法、電子設備和介質,方法包括步驟S1、獲取目標線程在進程中對應的三個維度的模(Z,Y,X);步驟S2、獲取目標線程總數P以及一個時鐘周期所能執行的線程數A;步驟S3、將P個目標線程...
        • 本發明涉及芯片技術領域,尤其涉及一種數據分發方法、電子設備和介質,方法包括:S1、獲取Pm發送的初始化數據存儲在Pm對應的存儲器組Am中;S2、獲取Pm發送的指令數據Um,獲取Um所對應的指令序號、目標Qn標識、初始化數據長度、初始化數...
        • 本發明涉及芯片技術領域,尤其涉及一種異步復位狀態可控的低功耗觸發器電路結構,包括第一觸發器、第二觸發器、復位控制門、置位控制門和非門,其中,第一復位輸入引腳和第一置位輸入引腳均用于接收第一復位信號,第二復位輸入引腳和第二置位輸入引腳均與...