本技術公開了一種晶圓測試設備用上料結構，本技術涉及晶圓測試技術領域，該晶圓測試設備用上料結構，包括放置組件，所述放置組件用于對待測試的晶圓進行放置；上料組件，所述上料組件設置有多個，多個所述上料組件呈圓周陣列方式分布，所述上料組件設置于...

本技術提供一種用于全自動探針臺翹曲晶圓測試的按壓輔助裝置，涉及芯片生產裝置技術領域，該裝置包括連接臂、升降盤、驅動氣缸；驅動氣缸兩側分別設有導槽塊，導槽塊設有升降槽，升降槽內設有升降滑塊，升降滑塊滑動設置于升降槽內，升降滑塊兩端分別為連...