本公開提供了一種芯片工藝角的檢測電路，包括：工藝角檢測單元，用于采集待測芯片內的三組對比信號，每組對比信號均包括一個與工藝角相關并且與溫度無關的第一電壓信號，一個與工藝角和溫度均無關的第二電壓信號；比較單元，用于確定每組對比信號的兩個電...