本申請公開了一種基于高斯輻射的位姿標定方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，該基于高斯輻射的位姿標定方法包括：基于目標標定設(shè)備，對目標標定模體進行圖像采集，生成目標模體圖像序列；基于預(yù)先訓(xùn)練完成的高斯輻射模型，對所述目標模體圖像序列中的模體圖像進...

本申請公開了一種缺陷樣本的生成方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)，該缺陷樣本的生成方法包括：收集目標型號電池的真實缺陷圖像，并對所述真實缺陷圖像進行仿射變換和彈性變換，生成缺陷樣本圖像庫；根據(jù)所述目標型號電池的空間結(jié)構(gòu)特征，對所述目標型號電池進...