一種用于確定集成電路（ＩＣ）內部操作的新穎方法，包括測量來自集成電路芯片的電磁（ＥＭ）發射以及分析ＥＭ發射。在特定的方法中，利用封閉式ＲＦ探針測量來自ＩＣ的ＥＭ發射。在特定的方法中，測量以各種方式配置的ＩＣ的電磁發射。在正常操作模式下，...