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        長沙麓邦光電科技有限公司專利技術(shù)

        長沙麓邦光電科技有限公司共有151項(xiàng)專利

        • 本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,公開一種光學(xué)配對系統(tǒng),以提高配對的隱蔽性、趣味性及安全性。本實(shí)用新型系統(tǒng)包括:配對部署于兩個(gè)分離偏振組件中的第一偏振層和第二偏振層;采用雙折射材料的相位層;所述相位層承載有光照情況下僅在被部署于所述第一偏振層...
        • 一種雙倍焦深的貝塞爾激光加工頭,包括用于將入射激光束轉(zhuǎn)換為貝塞爾光束的錐透鏡和用于將光束聚焦到加工面的透鏡組,在所述錐透鏡與所述透鏡組之間設(shè)置有光束平移環(huán);所述錐透鏡為液晶平板錐透鏡,液晶平板錐透鏡將入射激光束轉(zhuǎn)換為發(fā)散和匯聚兩束環(huán)形光...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開一種基于渦旋相位圓偏光矢量疊加的檢測系統(tǒng)及方法,以精準(zhǔn)測量透光被測物的厚度均勻度。方法包括:處理器獲取無被檢測物時(shí)相位檢測器所采集到的第一矢量偏振場,在將被檢測物置于偏振光柵與第一渦旋波片或第二渦旋波片之...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開一種基于單縱模激光測量被測對象參數(shù)的系統(tǒng)及方法,以提高檢測的效率和便捷性。系統(tǒng)包括:光源為單縱模激光的干涉發(fā)生裝置,在發(fā)生干涉的一束光波中設(shè)置有改變光程的調(diào)節(jié)器,呈現(xiàn)干涉發(fā)生裝置所發(fā)生干涉圖像的散射片,對...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)制造技術(shù)領(lǐng)域,公開一種用于制備光柵尺的夾具及其聯(lián)控方法,以提高光柵尺的制備精度。本發(fā)明夾具設(shè)置有用于在光刻時(shí)將光柵尺基帶當(dāng)前的目標(biāo)光刻區(qū)域同步壓緊并拉直于工作臺面的聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu);所述聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)有三組氣缸及兩組負(fù)壓真空管路,且還...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開一種基于多縱模激光測量直線位移臺定位精度的系統(tǒng)及方法,以實(shí)現(xiàn)對位移臺定位精度進(jìn)行高精度檢測。本發(fā)明通過所采集位移臺在運(yùn)動(dòng)過程中系列散斑圖片與散斑對比度周期的對應(yīng)關(guān)系計(jì)算運(yùn)動(dòng)初始狀態(tài)與最終狀態(tài)之間的光程差,...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)制造技術(shù)領(lǐng)域,公開一種光柵尺的并行同步制備系統(tǒng),以提高光柵尺的制備精度和效率。系統(tǒng)包括送料裝置、收料裝置、夾具及光刻模組;夾具在工作臺面的水平方向上設(shè)有平行的對應(yīng)至少兩條光柵尺基帶的尺槽,并設(shè)置有用于在光刻時(shí)將各光柵尺基帶...
        • 一種激光切割裝置,包括殼體、四分之一波片和透鏡,四分之一波片和透鏡均安裝在殼體內(nèi),透鏡包括依次排列的衍射錐透鏡、第一透鏡和第二透鏡,其中衍射錐透鏡更靠近四分之一波片,第一透鏡和第二透鏡組成一個(gè)雙遠(yuǎn)心系統(tǒng)。本實(shí)用新型的激光切割裝置可以用于...
        • 一種大口徑自動(dòng)曝光機(jī),包括機(jī)架、安裝在機(jī)架上的光路系統(tǒng)和散熱系統(tǒng),所述光路系統(tǒng)按光線的傳播路線依次包括光源、導(dǎo)光錐、第一準(zhǔn)直透鏡、復(fù)眼透鏡,大口徑反射鏡和第二準(zhǔn)直透鏡,散熱系統(tǒng)安裝在光源后方,用于對光源進(jìn)行散熱。本實(shí)用新型的曝光機(jī)通過石...
        • 一種偏振補(bǔ)光燈,包括殼體、光源、偏振光柵、偏振轉(zhuǎn)換器和復(fù)合整形透鏡,光源發(fā)出的非偏振光射向偏振光柵,偏振光柵用于將非偏振光轉(zhuǎn)換為兩束旋向相反的偏振光,光束偏轉(zhuǎn)角為θ,偏振轉(zhuǎn)換器用于將兩束旋向相反的偏振光轉(zhuǎn)換成偏振狀態(tài)一致的偏振光,復(fù)合整...
        • 一種傳播光場檢測系統(tǒng)及方法,檢測系統(tǒng)包括外殼、線性位移臺、刀口探測器、通光孔及控制中心;線性位移臺和刀口探測器均安裝在外殼內(nèi),通光孔設(shè)置在外殼側(cè)面上,所述線性位移臺用于在光束傳播方向上進(jìn)行高精度掃描,所述刀口探測器用于掃描光束橫向截面的...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)制造技術(shù)領(lǐng)域,公開一種楔形平板剪切干涉儀用配件一致性校驗(yàn)方法,以避免造成用戶的誤判。方法包括:搭建楔形平板剪切干涉儀裝配調(diào)試系統(tǒng),其包括第一和第二底座、將準(zhǔn)直光束分束到兩個(gè)剪切板上楔形棱鏡的非偏振分束鏡,且在非偏振分束鏡與...
        • 一種偏振補(bǔ)光燈,包括殼體、光源、偏振光柵、偏振轉(zhuǎn)換器和復(fù)合整形透鏡,光源發(fā)出的非偏振光射向偏振光柵,偏振光柵用于將非偏振光轉(zhuǎn)換為兩束旋向相反的偏振光,光束偏轉(zhuǎn)角為θ,偏振轉(zhuǎn)換器用于將兩束旋向相反的偏振光轉(zhuǎn)換成偏振狀態(tài)一致的偏振光,復(fù)合整...
        • 一種激光切割裝置,包括殼體、四分之一波片和透鏡,四分之一波片和透鏡均安裝在殼體內(nèi),透鏡包括依次排列的衍射錐透鏡、第一透鏡和第二透鏡,其中衍射錐透鏡更靠近四分之一波片,第一透鏡和第二透鏡組成一個(gè)雙遠(yuǎn)心系統(tǒng)。本發(fā)明的激光切割裝置可以用于不同...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)領(lǐng)域,公開一種漸變型濾光片的OD值檢測方法、系統(tǒng)及存儲介質(zhì),以提高檢測的效率和精度。系統(tǒng)包括:將光源轉(zhuǎn)換成準(zhǔn)直環(huán)形光束的轉(zhuǎn)換裝置;圖像采集器,用于按先后順序采集將漸變型濾光片分別從光路中移除和復(fù)原情況下的第一圖像和第二圖像...
        • 本發(fā)明涉及光學(xué)儀器測評技術(shù)領(lǐng)域,公開一種測量鏡架穩(wěn)定性的方法及系統(tǒng),以確保測量的可靠性和便捷性。方法包括:在待測鏡架上裝載第一反射鏡,并將該第一反射鏡部署在干涉觀測系統(tǒng)的一列光路中;采集干涉條紋圖像,確定一觀測干涉條紋明暗變化的參照點(diǎn)的...
        • 本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,公開一種多功能光鑷系統(tǒng),以對所捕獲粒子的光譜特性進(jìn)行多維的觀測并精簡系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型系統(tǒng)包括:用于捕獲粒子的第一激光光源;用于對所捕獲粒子進(jìn)行熒光的第二激光光源;同光軸的第一二向色鏡與第二二向色鏡;第一激...
        • 本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,公開一種望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng),以提高調(diào)節(jié)的便捷性。本實(shí)用新型公開的望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng),包括第一透鏡和第二透鏡,所述第一透鏡位于XY軸二維位移調(diào)整組件之中,所述第二透鏡位于XYZ軸三維位移調(diào)整組件之中;所述XY軸二維位移調(diào)整組件...
        • 本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,公開一種光刻系統(tǒng),以提高操作的便利性和聯(lián)動(dòng)的智能性。本實(shí)用新型包括:第一光源模塊,用于發(fā)出光刻用的激光;開關(guān)控制器,用于控制第一光源模塊射入偏振控制模塊的光路“開”、“關(guān)”狀態(tài);偏振控制模塊,用于以像素為單位...
        • 本實(shí)用新型涉及光學(xué)技術(shù)領(lǐng)域,公開一種渦旋干涉光鑷系統(tǒng)。本實(shí)用新型系統(tǒng)包括:激光器;光鑷子系統(tǒng);位于光鑷子系統(tǒng)與激光器之間的渦旋光束干涉子系統(tǒng);渦旋光束干涉子系統(tǒng)采用馬赫曾德干涉結(jié)構(gòu)以向光鑷子系統(tǒng)輸出渦旋干涉光,光臂一為渦旋光束模塊,光臂...