本發明公開了一種基于讀干擾感知的NAND塊健康度預測方法及系統，實時采集NAND閃存塊的讀干擾事件計數；并動態觸發多維參數采集生成帶時間戳的多維參數數據；基于多維參數提取動態變化率、分布熵值與增長斜率特征，生成壓縮特征矩陣；將壓縮特征矩...

本發明公開了一種JTAG動態密鑰燒錄方法，該方法包括以下步驟：1）采集主控芯片的物理特征，獲取設備唯一PUF校正值；2）對獲取的PUF校正值進行加密，獲取與設備固件綁定的加密密鑰流；3）計算加密密鑰流的哈希值寫入SPI?NOR熔斷區，生...

本發明公開了一種存儲設備掉電保護方法及系統，該方法包括：每當存儲設備內的用戶數據的總量增加到指定值時，對待保護數據進行數據處理，生成數據快照；其中數據處理包括去重或壓縮；當存儲設備異常掉電時，獲取最新的數據快照以及待保護數據的增量數據，...

本發明公開了一種通過智能控制晶振增加SSD可靠性的測試方法及系統，方法包括：獲取SSD在正常晶振條件下的基準數據；設定測試參數，并發送控制指令，其中測試參數包括測試環境參數和測試工作參數；接收控制指令，進行晶振的動態控制與可靠性測試，并...

本發明公開一種閃存芯片的抽樣測試方法、設備及介質，該方法包括：確定閃存芯片單位碼長最大錯誤比特數和頁面最大誤碼率；將塊劃分為相同的若干個區域；對于所有塊的每一個區域，將單位碼長錯誤比特數從大到小排序，選取前第一比例的單位碼長錯誤比特數并...

本發明公開了一種SSD遠程量產開卡與測試方法及系統，該方法包括：在遠程服務器中部署遠程開發環境并編譯生成SPI?NOR?FLASH最小驅動單元的可執行文件，所述可執行文件用于實現對SPI?NOR?FLASH的擦寫讀；通過遠程控制程序調試...

本發明公開了一種分布式存儲系統的測試方法、設備與存儲介質，該方法包括以下步驟：1）從分布式存儲系統的歷史故障與運行數據中提取故障特征、故障模式、系統配置、環境參數和故障影響信息，構建故障知識圖譜和數據集；2）獲取給定的測試目標，將測試目...

本技術公開了一種批量實現自動化開卡和NAND?Sorting的裝置及系統，包括：多個NAND?Sorting單元板，一個Sorting協議轉換載板，用于在正面固定設置所述多個NAND?Sorting單元板，Sorting協議轉換載板上，...

本發明公開了一種用于UFS命令的驗證測試方法，該方法包括以下步驟：1）動態生成UFS命令，其中，UFS命令為管理UFS設備的操作命令集；2）發送端對UFS命令加入CRC校驗標志位；3）在UFS命令中注入預定義的CRC錯誤；4）設置時鐘頻...

本發明公開了一種基于AI技術的存儲器測試方法、設備與介質，包括以下步驟：1)獲取待測試存儲器的結構解析數據和存儲器類型描述信息，生成用于表達測試目標的測試意圖向量；2)以所述測試意圖向量為輸入，生成測試激勵序列；3)執行所述測試激勵序列...

本發明公開了一種基于加密PSSD的權限共享操作的數據保密方法、設備與介質，該方法包括以下步驟：1）對PSSD進行權限分區；2）設定加密區域特征屬性；對每一個加密區設有一個屬性結構L<subgt;ij</subgt;，該結構內...

本發明公開了一種多芯片堆疊結構及制造方法，其特征在于：基板上設置至少兩層芯片，第一層設置至少一個第一芯片，第二層設置一個第二芯片；第一芯片四周設置第一芯片引線，第二芯片四周設置第二芯片引線；第二芯片從上方覆蓋所述第一芯片，且第二芯片部分...

本發明公開了一種DRAM芯片的測試系統及方法，包括：FPGA和LVDS組合模塊，用于對待測試DRAM芯片發出信號并接受DRAM芯片返回的信號，并控制DRAM芯片進入不同工作狀態；電壓檢測ADC電路，用于獲取待測試DRAM芯片在不同工作狀...

本發明公開了一種增強HBM和DDR內存穩定性的系統和方法，將DDR內存模塊連接超級電容模塊，實時獲取內存電壓值、以及電容電壓值及電容量；超級電容在系統正常工作時由系統供電充電，當檢測到電源異常事件時，由主電源對DDR內存供電切換為超級電...

本發明公開了一種檢測固態硬盤電源質量的測試方法及裝置，包括：第一類可編程電源芯片，對應連接固態硬盤的主控芯片，在第一類可編程電源芯片上設置n個電壓傳感器和n個電流傳感器；以及，n個第二類可編程電源芯片，各第二類可編程電源芯片分別與n個N...

本發明公開了一種利用擦除時間測試閃存介質溫區分布的方法和存儲介質，包括：在連續變溫的環境中，命令閃存介質按照預設的周期擦除數據并采樣擦除時間，統計采樣區間內的平均擦除時間，根據溫度變化趨勢取最大或最小擦除時間；根據所述平均擦除時間和最大...

本發明公開了一種ZNS固態硬盤溫度控制方法、系統及存儲介質，其特征在于包括：Zone優先級配置模塊，用于對各個Zone的業務優先級進行配置；業務狀態檢測模塊，用于檢測當前SSD有哪些業務正在進行及各業務請求個數；溫度檢測模塊，用于檢測當...

本發明提供了一種基于ZNS的AI大模型存儲加速算法，通過定義基于ZNS的神經網絡學習算法的存儲模式以及狀態機調度算法，基于ZNS的SSD單獨存儲每層的參數，降低了設備對于大容量內存存儲的需求，同時提升神經網絡算法學習過程中的參數導入性能...

本發明公開了一種針對嵌入式存儲器進行批量系統級測試的測試系統和方法，其特征在于，所述測試系統包括多個測試節點、網絡模塊、控制模塊、監控模塊；所述方法包括確定待測嵌入式存儲器類型和數量，配置測試節點環境并裝載存儲器；配置并裝載完成后，控制...

本發明公開了一種批量檢測閃存芯片電信號參數異常的測試方法及裝置，包括閃存芯片測試架，用于對待測閃存芯片進行上下料操作，外圍電路設置與待采集電信號參數對應的引腳測試點；測試點選擇開關，用于選擇需要測試的電信號參數；電信號顯示模塊，設置為將...