本發(fā)明的課題在于提供一種能夠進行穩(wěn)定的電連接且不會在突起狀連接電極的突起頂點留下刮擦痕跡的探針引導件、懸臂型探針板以及半導體裝置的試驗方法。本發(fā)明通過提供以下這樣的探針引導件、具有這樣的引導件的懸臂型探針板以及使用這樣的引導件的半導體裝...

本發(fā)明提供一種平板狀被檢查體的測試裝置，其防止被檢查體掉落到觸頭上。測試裝置包括：面板承接件，其具有承接平板狀被檢查體的矩形的面板承接面；探針單元，其具有探針塊，該探針塊具有按壓于上述被檢查體的電極的多個觸頭；多個保護構件，其位于上述面...

本發(fā)明提供能夠解除結合地牢固結合芯片單元與連接單元、探針單元與連接單元的電連接裝置和使用該電連接裝置的試驗裝置。該電連接裝置包括：芯片單元，其在芯片支承體的上側配置多個電子元件；探針單元，其在探針支承體的下側配置多個觸頭；配置在芯片單元...

本實用新型提供一種探針單元及檢查裝置。能謀求檢查作業(yè)的效率化。該探針單元包括：探針部件，其通過使多個探針分別與設于檢查對象面板上的多個端子相接觸來進行點亮檢查；短路裝置，其在使上述各探針分別與上述各端子相接觸而進行點亮檢查時，在上述檢查...

本發(fā)明提供一種被檢查基板的對準裝置。該被檢查基板的對準裝置對大型的被檢查基板可靠地進行預對準。包括：Ｘθ軸工件載置臺，支承被檢查基板能在Ｘ軸方向上移動且能繞θ軸方向旋轉；ＹＺ軸接觸載置臺，構成為與該Ｘθ軸工件載置臺分別獨立的構件而沿Ｙ軸...

本發(fā)明提供一種電路板的配線修補方法及其裝置。該方法及裝置不損傷設置在配線下側的電絕緣膜就能夠容易地修補電路板的配線。配線修補技術如下所述：將金屬微粒子（２４）供給到電路板（１０）的欲修補的配線缺損部分（２０），將加熱后的氣體、即含有氧氣...

一種電連接裝置及觸頭，該電連接裝置包括基板、和第１觸頭組及第２觸頭組。上述基板具有第１及第２安裝部組，該第１及第２安裝部組分別具有在第１方向交替配置著的多個第１及第２安裝部；上述第１及第２觸頭組，分別具有多個呈懸臂梁狀地分別安裝在上述第...

本發(fā)明提供一種缺陷檢查方法以及缺陷檢查裝置，防止過度的檢查從而提高檢查效率。缺陷檢查裝置檢查檢查對象物是否存在缺陷并且連續(xù)檢查多個檢查對象物。缺陷檢查裝置具備：輸送單元，連續(xù)輸送檢查對象物；檢查部，連續(xù)檢查由輸送單元輸送的檢查對象物；圖...

本發(fā)明提供一種探針裝置，能夠盡可能地減小探針相對于探針保持架的位移量的差，進行準確的試驗。在探針裝置中，將結合組件組裝到支承組件的下側的組裝裝置包括：凹部，其形成在結合組件和支承組件中的任一方；連結構件，其與該凹部嵌合；第１螺紋構件，其...

本發(fā)明提供一種集成電路的測試裝置。該裝置將芯片單元以及探針單元中的至少一方單元、與連接銷以能夠調整上述一方單元與連接銷之間的相對按壓力的方式結合起來。集成電路的測試裝置包括：芯片單元，其在芯片支承體的上側配置有測試芯片那樣的多個電子零件...

本發(fā)明提供一種能夠抑制產生模糊、出現(xiàn)圖像散亂現(xiàn)象等而進行準確的檢查、能夠調節(jié)背光燈的光的照射范圍而抑制發(fā)生誤判斷的非點亮檢查裝置。該裝置用于對待檢查面板進行非點亮檢查。該裝置包括：線陣相機，其與輸送裝置面對地設置、用于獲取被該輸送裝置輸...

本發(fā)明提供一種平板狀待檢查體的試驗裝置，能夠準確地進行待檢查體的定位且造價低。適用于試驗裝置的對準裝置包括：第１推動機構和第１定位機構，其分別配置在面板承載面的相對的一對邊的一個邊和另一個邊上，并且在對應的邊的延伸方向上隔有間隔地配置；...

本發(fā)明提供一種對檢查人員的熟練程度依賴較小、檢查效率高的目視檢查裝置以及目視檢查方法，以及具有這樣的目視檢查裝置的檢查系統(tǒng)。所述目視檢查裝置是具有使測試圖案顯示在檢查對象面板上的單元的顯示面板的目視檢查裝置，該目視檢查裝置具有：測試圖案...

一種配線描繪裝置和配線描繪方法，能夠實現(xiàn)配線描繪裝置的緊湊話和成本的降低，并且還可以提高描線的可靠性。該配線描繪裝置具有在基板上涂布材料并描繪配線等的涂布部、控制該涂布部并至少調整所述材料的涂布量的控制部、對由所述涂布部描繪在所述基板上...

本發(fā)明提供一種薄膜特性測定裝置及方法、以及薄膜加工裝置及方法。薄膜特性測定方法，對通過多個溝槽劃分為多個電極的、成膜于絕緣基板上的導電性薄膜的特性更細致地進行測定。本發(fā)明用于測定夾著溝槽的２個電極間的電特性。將由夾著所述溝槽的一方的電極...

本發(fā)明提供一種太陽能電池短路部去除裝置，其可以迅速地進行短路部的去除，同時短路部的去除所必要的反向偏壓的范圍等對于電源的規(guī)格要求也不高，或者，可以預防去除時施加的電壓所產生破壞。本發(fā)明的電池短路部去除裝置，通過施加反向偏壓去除電池的短路...

本發(fā)明提供一種液晶顯示面板的檢查方法以及裝置，在使用多個攝像裝置來檢查液晶顯示面板的情況下，盡可能減少攝像裝置的臺數(shù)，并且盡可能減小視場角特性的影響。檢查對象的液晶顯示面板（１０）具有矩形的顯示畫面（１２）。該矩形的各邊在Ｘ方向以及Ｙ方...

提供一種能夠提高檢查精確度的傳感器基板以及檢查裝置。本發(fā)明涉及一種傳感器基板，該傳感器基板是以非接觸形式并且能夠電磁耦合地與檢查對象基板對置的傳感器基板，具有被排列的傳感器電極和對各傳感器電極的捕捉信號至少進行放大的與各傳感器電極對應的...

本發(fā)明提供一種檢查裝置。在進行亮燈檢查而發(fā)生亮燈不良時，可以容易地判定引起該亮燈不良的原因是面板不良還是接觸不良。該檢查裝置對檢查對象板進行亮燈檢查。在該檢查裝置中包括具有直接與上述檢查對象板的電極相接觸的探針的多個探針組合體、和支承各...

本發(fā)明提供一種與最佳阻抗特性相匹配，保持高檢查精度 的探針單元及檢查裝置。該探針單元包括：探針組裝體，具有 與檢查對象板相接觸而傳輸檢查信號的探針；連接電纜部，電 連接上述探針側和外部裝置側；上述連接電纜部具有傳輸伴隨 著檢查所產生的電...