提供一種小型且能提升每單位容積的電流容量的二次電池。本發(fā)明為一種二次電池，其特征為：具備兩個電池部，所述電池部在第一電極層與第二電極層之間具有充電層，使其中一個電池部及另一個電池部彼此的第一電極層相鄰連接，或使其中一個電池部及另一個電池...

以更高的精度檢測顯示設(shè)備的顯示不均勻。對從CCD照相機(5)獲取到的液晶面板顯示器(3)的顯示圖像的輸出圖像數(shù)據(jù)進行尋址，獲取液晶面板顯示器(3)的各像素的像素值，來獲取各微分像素值。而且，將各像素的微分像素值與不均勻判斷閾值進行比較，...

以更高的精度檢測顯示設(shè)備的顯示不均勻。對從CCD照相機(5)獲取到的液晶面板顯示器(3)的顯示圖像的輸出圖像數(shù)據(jù)進行尋址，獲取液晶面板顯示器(3)的各像素的像素值。而且，為了檢測液晶面板顯示器(3)的顯示不均勻而獲取各像素的微分像素值。...

本發(fā)明提供能夠迅速且準確地確定缺陷地址的緊湊的液晶面板檢查裝置。檢查裝置具備：第1偏振片和第2偏振片，其分別配置于工作臺上的液晶面板的上方和下方；背光單元，其經(jīng)由第2偏振片自工作臺上的液晶面板的下表面與該下表面成直角照射液晶面板；傾斜照...

本發(fā)明提供一種片狀電池的修理裝置，其能夠?qū)哂邪雽w特性的片狀電池的缺陷進行適當?shù)匦迯筒⑵錈o害化。修理裝置是對蓄電層被正電極以及負電極的層夾著的、至少蓄電層具有半導體特性的片狀電池進行修理的修理裝置。修理裝置具有在正電極以及負電極之間...

提供一種能夠穩(wěn)定地形成布線圖案的布線形成裝置、維護方法以及布線形成方法。布線形成裝置(1)具有霧化裝置(2)、噴嘴(3)以及將它們連接的連通管(4)，從噴嘴(3)噴射霧化后的糊劑材料而在基板(W)上進行布線圖案的形成。布線形成裝置(1)...

提供一種探針卡和檢查裝置，以限制探針卡在測試對象檢查過程中的變形并且抑制探針卡的平坦度的降低。探針卡是與測試對象接觸以執(zhí)行檢查的探針卡，該探針卡具有：探針基板，其在第一表面上設(shè)置有多個探針并且在第二表面上設(shè)置有多個固定件接收部；以及支撐...

對蓄電層被正電極以及負電極的層夾持的片狀電池進行評價。本發(fā)明的特征在于，使電極用探針與正電極或負電極中的至少一方的外表面的測量部位接觸，對有關(guān)該測量部位的電量進行測量，以評價上述片狀電池。例如，將充電源以及電壓計連接于電極用探針，根據(jù)電...

檢查單元、探針卡、檢查裝置以及檢查裝置用的控制系統(tǒng)。提供了探針卡隔著真空室與連接體一體化的檢查單元。該檢查單元防止了設(shè)置在探針卡上的探針的頂端的平面度在探針卡由于真空室的吸力（負壓）而與連接體一體化時劣化。檢查單元包括：探針卡，其在其第...

本發(fā)明提供一種多層配線基板和使用該多層配線基板的探針卡，本發(fā)明的目的在于提高薄膜電阻器的針對安裝有上述薄膜電阻器的多層配線基板的熱變化的耐久性。多層配線基板包括：絕緣板，其由多個具有絕緣性的合成樹脂層構(gòu)成；配線電路，其設(shè)于該絕緣板；薄膜...

本發(fā)明的電氣膜體的制造方法以短時間高效率且高精度地形成薄膜電阻等元件。該電氣膜體的制造方法是將膜體形成為符合所希望的電氣特性的形狀的電氣膜體的制造方法，其具有以下工序：在基板層上形成電氣膜體的成膜工序，測量在該成膜工序中成膜的電氣膜體的...

本發(fā)明提供一種吸附臺。吸附臺用于保持顯示面板，其包括：支承臺，其具有開設(shè)有負壓開口的吸附面；多個升降條，其配置為橫穿吸附面；多個凹部，該多個凹部彼此并行地設(shè)置在吸附面上，以便將升降條收容在支承臺內(nèi)而使升降條不會自吸附面突出；支承機構(gòu)，其...

本發(fā)明提供能夠不會造成結(jié)構(gòu)的復雜化且在不會使較強的應(yīng)力局部地作用于顯示面板地使該顯示面板在被交接時在吸附面上升降的吸附臺。本發(fā)明的吸附臺用于保持顯示面板，其中，該吸附臺包括：支承臺，其具有開設(shè)有負壓開口的吸附面；多個升降條，其以橫穿上述...

本發(fā)明提供一種檢查裝置，其可以使連接配線構(gòu)造簡單，且容易進行等長度配線。該檢查裝置至少包括：具有分別與半導體晶片的每個檢查對象芯片對應(yīng)排列的、與各芯片的多個電極接觸的多個探針的探針卡；和分別與該探針卡的上述各探針電連接、并將來自測試機的...

本發(fā)明的課題為提供一種能夠在晶片狀態(tài)下對在晶片基板的兩面具有電極的半導體器件的特性進行高精度測定的半導體器件的檢查裝置及其所使用的吸盤臺。本發(fā)明通過提供如下的半導體器件的檢查裝置來解決上述課題，所述檢查裝置具有表面電極用探針以及背面電極...

本發(fā)明的課題在于提供一種能夠防止探針或半導體器件的通電所引起的溫度上升、能夠進行正確測定的電力用半導體器件檢查用探針組件和使用其的檢查裝置。本發(fā)明通過提供如下的電力用半導體器件檢查用探針組件和使用其的檢查裝置來解決上述課題，該電力用半導...

本發(fā)明提供一種具有優(yōu)良高頻特性且維護容易的平衡信號傳輸用的探針，及具備該探針的探針卡和探針裝置。通過提供以下的探針塊，及具備該探針塊的探針卡以及探針裝置來解決上述課題，所述探針具備：設(shè)有第一槽的導電性的基座構(gòu)件；2根一對的信號用探針材料...

本發(fā)明提供一種提高擴張晶片上的發(fā)光元件的光學特性的檢測效率，使每單位時間的檢測個數(shù)增多的發(fā)光元件的檢測裝置及檢測方法。本發(fā)明的課題通過以下的檢測裝置及采用該檢測裝置的檢測方法來解決。該檢測裝置包括：晶片卡盤臺，其具備多個晶片卡盤；位置測...

本發(fā)明提供一種晶片的分離方法及分離裝置，其在從呈多片晶片層疊的狀態(tài)的層疊晶片組分離晶片、將分離后的晶片一片一片地移動運載到規(guī)定部位的作業(yè)中，通過盡量不對分離的晶片施加因摩擦、變形等而產(chǎn)生的應(yīng)力而防止破損，由此能夠進一步提高晶片的合格率、...