本申請公開了一種電子器件測試方法。該方法包括：提供一測試電路板，測試電路板上設有第一接觸點；在測試電路板與被測電子器件之間設置柔性導電層；其中，被測電子器件上設有第二接觸點；對測試電路板和被測電子器件進行壓合，使對應的第一接觸點和第二接...

本發(fā)明公開了一種固態(tài)硬盤的數(shù)據(jù)處理方法及相關設備，所述方法包括：確定IO隊列的個數(shù)；根據(jù)IO隊列的個數(shù)創(chuàng)建緩存區(qū)域；接收主機端發(fā)送的多個數(shù)據(jù)操作指令，根據(jù)每個數(shù)據(jù)操作指令在IO隊列中的位置，分別將多個數(shù)據(jù)操作指令存儲到緩存區(qū)域的多組鏈表...

本申請公開了一種存儲裝置的認證方法。該方法應用于存儲裝置，該方法包括：在連接到第一終端設備時，通過第一終端設備連接到服務器，以使服務器在第一終端設備上生成認證標識；其中，認證標識用于與第二終端設備交互，以使服務器連接第二終端設備進行身份...

本申請公開了一種內存條。該內存條包括：電路板；存儲介質，設置于電路板上；調壓電路，設置于電路板上并與存儲介質連接，用于對輸入的電壓進行電壓調整，并將調整后的第一目標電壓輸入至存儲介質；配置電路，設置于電路板上并與調壓電路連接，配置電路的...

本申請涉及網(wǎng)絡存儲技術領域，公開了網(wǎng)絡存儲裝置及網(wǎng)絡存儲裝置的模式切換方法。該裝置包括：網(wǎng)關芯片、電平鎖定電路、主控芯片及存儲介質，其中，電平鎖定電路根據(jù)網(wǎng)關芯片的網(wǎng)線連接狀態(tài)鎖定網(wǎng)線檢測引腳的電平，主控芯片根據(jù)網(wǎng)線檢測引腳的電平控制存...

本申請公開了一種測試方法及測試系統(tǒng)。該方法包括：基于測試事件的測試命令，并根據(jù)所述測試命令調用相應的測試軟件；其中，所述測試軟件為自主測試軟件或第三方測試軟件；利用所述測試軟件執(zhí)行所述測試事件。通過上述方式，本申請能夠根據(jù)測試命令調用自...

本申請公開了一種測試裝置。該裝置包括：電路板；接口，設置于電路板上；測試芯片，設置于電路板上，并通過電路板上的走線連接接口；第一隔熱層，覆蓋測試芯片，以隔離測試芯片和外部空間；其中，測試裝置用于放置于預設溫度環(huán)境中，以利用測試芯片對接口...

本申請公開了一種嵌入式系統(tǒng)平臺的再燒錄方法及相關裝置，嵌入式系統(tǒng)平臺中設置有存儲芯片，存儲芯片上設置有檢測接口；該方法包括：存儲芯片檢測到嵌入式系統(tǒng)平臺的鏈接啟動信號，且檢測到檢測接口的電平信號為啟動恢復信號；存儲芯片基于啟動恢復信號進...

本申請公開了一種存儲芯片測試設備、方法及相關裝置，該設備包括：處理器、引導存儲芯片和通信接口，處理器分別與引導存儲芯片和通信接口耦接；引導存儲芯片存儲有引導代碼；通信接口用于連接待測存儲芯片和處理器；處理器用于讀取引導存儲芯片中的引導代...

本申請涉及電子設備技術領域，公開了存儲設備及其數(shù)據(jù)回收方法、控制設備及可讀存儲介質。該存儲設備與控制設備連接，該方法應用于控制設備，該方法包括：獲取控制設備的狀態(tài)信息；其中，狀態(tài)信息包括控制設備的當前時間、充電狀態(tài)、電量狀態(tài)、屏幕狀態(tài)和...

本申請公開了一種數(shù)據(jù)存儲方法、智能終端及計算機可讀存儲介質，其中，該數(shù)據(jù)存儲方法包括：獲取待寫入數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)來源路數(shù)；其中，數(shù)據(jù)來源路數(shù)為至少兩路；基于數(shù)據(jù)來源路數(shù)在存儲器的存儲空間中劃分出設定數(shù)量的存儲區(qū)間；其中，存儲區(qū)間包括至少一個分...

本實用新型公開了一種存儲裝置，其中，存儲裝置包括：存儲主體，存儲主體上設置有協(xié)議轉換電路、存儲件、橋接電路以及接口轉換電路，其中，存儲件與協(xié)議轉換電路連接，協(xié)議轉換電路分別與接口轉換電路以及橋接電路連接；第一接口，第一接口固定設置于存儲...

本申請?zhí)岢鲆环N應力測量方法，用以測量封裝件的翹曲應力，所述封裝件包括貼合面及翹曲面，所述翹曲面與所述貼合面相對設置，其特征在于，所述應力測量方法包括：將所述封裝件放置在水平面上，所述貼合面與所述水平面之間形成間隙；在所述封裝件的翹曲面的...

本申請公開了一種多媒體文件管理方法。該管理方法包括：確定至少一多媒體文件；其中，多媒體文件為圖片文件、視頻文件或音頻文件；響應于針對多媒體文件的備份指令，將多媒體文件發(fā)送至云端以進行備份；以及對多媒體文件進行壓縮，將壓縮后的多媒體文件替...

本申請公開了一種存儲器的模式調整方法、存儲器以及電子設備，該存儲器的模式調整方法包括：存儲器觸發(fā)進入預設模式；檢測預設信號線的電壓情況；判斷電壓情況是否滿足預設電壓情況；若不滿足，則退出預設模式。上述方法，能夠減小因為誤觸進入預設模式導...

本申請涉及存儲設備測試技術領域，公開了存儲設備的測試方法、測試設備以及可讀存儲介質。該方法包括：獲取待測試存儲設備的參數(shù)信息；根據(jù)參數(shù)信息設置測試參數(shù)；其中，測試參數(shù)至少包括測試邏輯塊大小、測試邏輯塊的倍數(shù)以及讀寫測試的次數(shù)；利用測試參...

本申請公開了一種存儲芯片的控制方法及相關設備和存儲介質，方法包括：確定目標存儲芯片應用的通信協(xié)議；確定接收到的與通信協(xié)議相關的目標命令中與目標存儲芯片對應的目標字符；對目標存儲芯片執(zhí)行與目標字符對應的預設操作。通過該方法，可以擴展目標存...

本申請涉及存儲設備技術領域，公開了一種存儲設備。該存儲設備包括處理器和存儲器，存儲器與處理器連接，存儲器包括多個存儲陣列，存儲器被配置為多個區(qū)間，每一區(qū)間包括預設數(shù)量的存儲陣列，預設數(shù)量小于或等于物理地址所能夠覆蓋的存儲陣列的最大數(shù)量；...

本申請公開了一種閃存壞塊的檢測方法包括：基于第一預設數(shù)值對所述閃存中的奇數(shù)塊進行寫入處理；基于第二預設數(shù)值對所述閃存中的偶數(shù)塊進行寫入處理；順序讀取并檢驗所述閃存中的塊，判斷所述奇數(shù)塊中的讀取數(shù)值是否匹配第一預設數(shù)值，所述偶數(shù)塊中的讀取...

本申請公開了一種存儲芯片的溫升時間測量方法、存儲芯片測試方法及設備，該方法包括在對目標存儲芯片升溫過程中，讀取目標存儲芯片的寄存器的值；若檢測到寄存器的值滿足預設條件，則確定目標存儲芯片的溫度達到預設溫度；獲取目標存儲芯片的溫度達到預設...