本發明實施例提供了一種固態硬盤數據讀取方法、裝置、固態硬盤及計算機可讀存儲介質,固態硬盤數據讀取方法包括：接收數據讀取指令；基于預設的閃存轉換層映射表對數據讀取指令進行分析處理，得到數據物理地址；根據數據物理地址從固態硬盤對應的閃存單元...

本申請提出一種非硬干涉的磁吸式pogopin連接器，包括Pogopin公端連接器和Pogopin母端連接器，Pogopin公端連接器設置有第一電磁鐵和可伸縮的引腳，Pogopin母端連接器設置有第一磁吸部件和接觸部件，其中，在Pogop...

本申請公開了一種內存器測試的管理方法、裝置、電子設備及存儲介質，涉及測試管理技術領域，包括：獲取所述內存器的標準配置信息；根據所述標準配置信息，得到若干個關于寄存器的編號信息；根據所述編號信息，通過識別組合處理從對應的所述寄存器中確定所...

本申請公開了一種存儲器芯片的測試系統、方法、裝置、電子設備及介質，特別涉及一種電子芯片測試領域。溫控箱用于對測試組件進行加熱，以使存儲器芯片的環境溫度達到預設的測試溫度，而散熱器用于對片上系統模塊進行散熱，降低片上系統模塊的溫度，避免片...

本發明實施例提供了一種芯片測試方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質,芯片測試方法包括：獲取待測芯片的芯片標記信息；根據芯片標記信息和預設的應用場景設定庫確定得到待測芯片的目標應用場景信息；根據目標應用場景信息從預設的場景參數設定庫中...

本申請公開了一種電源電壓切換電路及其控制方法、電子設備，涉及供電電源技術領域。該電源電壓切換電路，包括：恒流降壓模塊，電壓調節模塊，控制器；恒流降壓模塊的輸入端與電源輸入端電連接；電壓調節模塊的輸入端與恒流降壓模塊的輸出端連接；電壓調節...

本發明公開了一種芯片噴碼檢測裝置，涉及芯片生產技術領域，一種芯片噴碼檢測裝置包括機架、芯片輸送機構以及視覺檢測機構。芯片輸送機構用于勻速輸送芯片。視覺檢測機構設置在機架上且位于芯片輸送機構上方。視覺檢測機構包括運動軌、若干視覺檢測組件以...

本申請公開了一種基于程序包的芯片測試方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質，特別涉及芯片生產技術領域。在程序包調用系統的程序包配置界面上顯示多個可選標識，可選標識與程序包一一對應，不同程序包用于對待測芯片的不同功能進行測試。基于選取操作指令...

本申請公開了一種存儲芯片的讀寫功能測試方法、讀寫功能測試裝置、電子設備和計算機可讀存儲介質，其中方法包括：獲取用戶輸入的待測存儲芯片的測試要求，所述測試要求至少包括以下信息：所述待測存儲芯片的存儲單元矩陣參數和數據寫入模式要求；將所述測...

本發明公開了一種芯片波形去嵌方法、裝置、電子設備、存儲介質，涉及芯片測試技術領域。該方法包括：將第一LPDDR5芯片通過轉接板焊接在第一測試電路板；將第二LPDDR5芯片焊接在第二測試電路；通過示波器獲取第一測試電路板和第二測試電路板的...

本申請公開了一種主控多串口并發協同通信方法、電子設備及存儲介質，該通信方法包括：獲取串口通訊速度和數據處理速度；根據串口通訊速度和數據處理速度，構建緩存循環隊列；獲取從串口組中傳輸的至少一個數據信息；其中，數據信息包括對應的串口標識；根...

本發明公開了一種多機數據更新方法、裝置、電子設備及存儲介質，其中方法包括：控制終端設備獲取待更新的第一代碼文件；再次控制終端設備對第一代碼文件進行標準化和加密處理，得到更新數據包；控制終端設備將更新數據包發送至上位機中；控制上位機獲取需...

本發明公開了一種芯片測試設備，涉及芯片測試技術領域，能夠實現芯片抓取機構的限位，避免吸頭壓壞芯片。一種芯片測試設備包括機架、若干測試板、芯片存放盤、芯片抓取機構以及測試治具。測試板用于對芯片性能進行測試。芯片存放盤設置在機架上。芯片存放...

本發明公開了一種芯片測試治具，包括PCB板、基座、轉盤和壓板，基座設置在PCB板上，基座上設置有安裝槽、定位孔、導電接觸塊和第一卡扣結構，安裝槽用于安裝芯片，設置的安裝槽方便將芯片快速且準確地安裝到位，轉盤和若干壓板的配合，使得壓板可以...

本申請提出一種eMCP芯片老化測試裝置及其測試方法，設置了分別與eMMC部分和LPDDR部分通信連接的嵌入式系統主機，首先，確定目標測試場景，根據目標測試場景確定目標測試性能參數；嵌入式系統主機根據目標測試性能參數對LPDDR部分進行測...

本申請提供了基于RISC?V架構的處理器、數據處理系統及方法，處理器包括指令獲取單元、指令譯碼單元、寄存器堆、分發單元、執行單元、擴展處理單元和數據訪問接口；對程序指令進行譯碼得到指令類型和應用領域類型；識別應用領域類型，在應用領域類型...

本申請實施例提出一種閃存干擾測試方法、控制器和計算機可讀存儲介質，該閃存干擾測試方法模擬了移動設備應用場景、汽車電子應用場景或者工業設備應用場景等不同的目標應用場景，并且還采用了預設干擾曲線對待測閃存進行干擾操作，在干擾測試中實現了干擾...

本發明公開了一種基于MT6877平臺的芯片測試方法、電子設備、介質，涉及芯片測試技術領域。該方法包括：獲取MT6877平臺；根據LPDDR5芯片的布局，設計轉接板；將線路走線的測試點引出至轉接板的表面，并與對應的測試焊盤連接；將轉接板焊...

本申請提出一種芯片溫度影響驗證裝置及其控制方法，包括控制裝置、熱交換器、半導體制冷器和導熱結構，導熱結構與待測芯片接觸并與待測芯片的形狀相對應，熱交換器和導熱結構分別設置于半導體制冷器的兩側面，控制裝置分別連接至半導體制冷器和導熱結構；...

本發明公開了一種芯片變距傳送裝置及芯片測試機，芯片變距傳送裝置包括：機架以及變距機構。變距機構配置為調節芯片之間的間距；變距機構包括：第一轉筒、滑臺以及驅動齒條，第一轉筒的外周表面設置第一螺旋限位槽，其一端設置有驅動齒輪，滑臺上設置有若...