本申請涉及用于使用相關樣本生成及高效統(tǒng)計模擬來計算時序良率及良率瓶頸的方法。本發(fā)明公開用于確定參數(shù)時序良率及瓶頸的方法及設備的各種實施例，所述方法及設備通過設計中的集成電路芯片的共同時序弧考慮電路路徑之間的相關性。時序弧延遲的蒙特卡羅樣...

本申請案涉及三維動態(tài)隨機存取存儲器晶體管的局部氧化。一種方法可包含與提供層堆疊相關聯(lián)的操作，所述層由層之間的電介質分離，每一層包括由所述多個單位單元之間的所述電介質分離的多個單位單元，每一單位單元包含硅溝道、在至少兩個維度上包圍所述硅溝...

本公開涉及一種用于估計軌道電壓偏差對信號時序的影響的環(huán)視方法。針對M電路單元窗計算延遲差(Ddelay)，其中M≥2。估計跨越所述M電路單元窗的子路徑的失真的信號傳播。針對所述失真的信號傳播，電路單元的軌道電壓包含軌道電壓(IR)降的影...

本公開描述了用于生成時序庫的系統(tǒng)和方法。裝置包括存儲器和處理器。處理器確定指示超導電子電路設計是通過邏輯驗證還是邏輯驗證失敗的條件，并且確定針對超導電子電路設計的時序參數(shù)的失敗邊緣值。處理器使用時序參數(shù)的失敗邊緣值和第一工藝變化來仿真超...

本申請案涉及從仿真硬件的邏輯電平度量計數(shù)提取。一種處理裝置可將至少一個邏輯電平度量計數(shù)模塊添加到電路設計，將所述電路設計加載到仿真系統(tǒng)中，并將仿真工作負載應用于所述電路設計所加載到的所述仿真系統(tǒng)。然后，所述處理裝置可從所述至少一個邏輯電...

本公開提供一種用于驅動雙軌存儲器電路的系統(tǒng)及方法，所述雙軌存儲器電路通過在四級延遲中感測存儲器位單元、使感測信號反相及進行電平移位來操作。所述系統(tǒng)包含反相電路系統(tǒng)，其經(jīng)配置以(ⅰ)從所述雙軌存儲器的第一電源軌(VDDA)接收電力，(ⅱ)...

一種方法包含：接收包含電路級的電路設計(100)；基于原始事件(141)導出輸入端口(110)的扇出錐(302)中的網(wǎng)的初始邏輯條件；針對所述原始事件，初始化邏輯轉變事件的優(yōu)先級隊列；從所述優(yōu)先級隊列確定觸發(fā)事件，所述觸發(fā)事件具有等于或...

一種用于在半導體裝置的設計中對心軸公差進行建模的計算機實施方法。所述方法包含接收用于所述半導體裝置的多圖案化(MPT)工藝設計套件(PDK)。所述PDK包含形成所述半導體裝置的至少部分的多個晶體管及與所述多個晶體管中的每一者相關聯(lián)的多個...

本公開涉及用于極紫外光刻的掩模拼接。基于半導體電路布局的掩模圖案的在所述掩模圖案中的邊界的閾值距離內的特征而確定所述掩模圖案內的第一位置。所述掩模圖案基于在所述邊界處交匯的第一次掩模曝光及第二次掩模曝光。所述第一位置界定要放置第一輔助特...

本公開涉及交互式視覺日志文件比較。一種方法包含：接收從由電子設計自動化過程的第一次運行生成的第一日志文件提取的第一結構化數(shù)據(jù)及從由所述電子設計自動化過程的第二次運行生成的第二日志文件提取的第二結構化數(shù)據(jù)；由處理裝置基于所述第一結構化數(shù)據(jù)...

本申請案涉及基于水平集函數(shù)的彎曲掩模層設計。在一些方面中，對光刻掩模進行設計，所述光刻掩模具有多個特征，包含彎曲主要特征。首先存取掩模層，所述掩模層表示所述光刻掩模的矢量表示。接著計算模擬場與目標場之間的校正場。所述模擬場是使用所述光刻...

一種集成電路(IC)可以包括存儲器設備和與存儲器設備耦接的電路。該電路可以預處理存儲器設備以維持振蕩，在包括存儲器設備的第一環(huán)路中發(fā)起第一振蕩，并且在不包括存儲器設備的第二環(huán)路中發(fā)起第二振蕩。

本公開涉及一種用于故障功能檢驗的時間控制的系統(tǒng)及方法。在一些實施例中，一種方法包含：在電路的標稱功能檢驗中確定第一組件的輸出在第一時間點時具有第一值，所述第一組件的所述輸出通過導線連接到第二組件的輸入；在所述電路的故障功能檢驗中確定所述...

模擬集成電路的操作。所述模擬包含通過使用污染指示符來跟蹤污染從源數(shù)據(jù)(例如敏感信息或故障)的傳播。所述源數(shù)據(jù)通過將對應污染指示符的值設置為污染值而被標記為“受污染”。模擬所述源數(shù)據(jù)沿著所述集成電路中的信號路徑的傳播。所述信號路徑含有所述...

一種用于設計超透鏡的方法包括接收對光學系統(tǒng)的描述，該描述包括(i)光學系統(tǒng)中的第一透鏡中要使用的超原子和(ii)與第一透鏡相距的第一距離，接收對光信號的描述，包括(i)到光學系統(tǒng)的入射光信號和(ii)光學系統(tǒng)的目標光信號，并確定多個超原...

一種用于表征存儲器實例的系統(tǒng)和方法。表征存儲器實例包括獲得包括多個葉單元的存儲器實例。多個葉單元中的每個葉單元包括組件。第一信道連接組件被從多個葉單元中的每個葉單元內的組件中確定，并且第一超級葉單元是基于第一信道連接組件通過組合多個葉單...

本公開涉及一種用于對激活函數(shù)進行近似的方法，所述方法包含：接收所述激活函數(shù)的輸入值；確定所述輸入值在一定范圍內，所述范圍包含一組非均勻區(qū)間；確定來自所述一組非均勻區(qū)間當中包含所述輸入值的選定區(qū)間；由硬件加速器從與所述激活函數(shù)的類型相關聯(lián)...

通過掃描鏈讀出與集成電路的操作條件相關的傳感器數(shù)據(jù)。對含有實施邏輯功能的邏輯電路的集成電路運行掃描測試。所述邏輯電路互連以形成在運行所述掃描測試時使用的掃描鏈。通過這些掃描鏈從所述邏輯電路讀出由所述掃描測試產(chǎn)生的掃描測試數(shù)據(jù)。在所述掃描...

本申請案涉及集成電路設計的單獨部分的獨立仿真。一種方法包含：接收包含多個電路模塊的集成電路設計；根據(jù)所述多個電路模塊將所述集成電路設計劃分為多個分區(qū)；將所述集成電路設計的所述多個分區(qū)指派給仿真系統(tǒng)的對應部分；通過處理器將多個仿真通信電路...

公開了一種以并行、可縮放和確定性的方式計算弱連通分量(WCC)的配置。該配置接收具有頂點和邊的無向原始圖。未定義的值被分配給圖的所有頂點。此后，每個頂點被訪問并被分配WCCID(標識WCC的索引)。對頂點的訪問可確定是否存在一個或多個線...